Schneider C.W., Goyal A., Mannhart J., Held R., Allard L.F., More K.L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, substrate SrTiO3, PLD process, critical current density, grain boundaries, angular dependence, microstructure, Jc/B curves, critical current, experimental results
Physical Review B, 2009, v.79, N 1, p.14515
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.